Data di Pubblicazione:
2014
Citazione:
The Physics of the B Factories / Bevan, A.; Golob, B.; Mannel, T.; Prell, S.; Yabsley, B.; Aihara, H.; Anulli, F.; Arnaud, N.; Aushev, T.; Beneke, M.; Beringer, J.; Bianchi, F.; Bigi, I.; Bona, M.; Brambilla, N.; Brodzicka, J.; Chang, P.; Charles, M.; Cheng, C.; Cheng, H.; Chistov, R.; Colangelo, P.; Coleman, J.; Drutskoy, A.; Druzhinin, V.; Eidelman, S.; Eigen, G.; Eisner, A.; Faccini, R.; Flood, K.; Gambino, P.; Gaz, A.; Gradl, W.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Hulsbergen, W.; Hurth, T.; Iijima, T.; Itoh, R.; Jackson, P.; Kass, R.; Kolomensky, Y.; Kou, E.; Križan, P.; Kronfeld, A.; Kumano, S.; Kwon, Y.; Latham, T.; Leith, D.; Lüth, V.; Martinez-Vidal, F.; Meadows, B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nishida, S.; Ocariz, J.; Olsen, S.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Palano, A.; Pich, A.; Playfer, S.; Poluektov, A.; Porter, F.; Robertson, S.; Roney, J.; Roodman, A.; Sakai, Y.; Schwanda, C.; Schwartz, A.; Seidl, R.; Sekula, S.; Steinhauser, M.; Sumisawa, K.; Swanson, E.; Tackmann, F.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uno, S.; van de Water, R.; Vasseur, G.; Verkerke, W.; Waldi, R.; Wang, M.; Wilson, F.; Zupan, J.; Zupanc, A.; Adachi, I.; Albert, J.; Banerjee, S.; Bellis, M.; Ben-Haim, E.; Biassoni, P.; Cahn, R.; Cartaro, C.; Chauveau, J.; Chen, C.; Chiang, C.; Cowan, R.; Dalseno, J.; Davier, M.; Davies, C.; Dingfelder, J.; Echenard, B.; Epifanov, D.; Fulsom, B.; Gabareen, A.; Gary, J.; Godang, R.; Graham, M.; Hafner, A.; Hamilton, B.; Hartmann, T.; Hayasaka, K.; Hearty, C.; Iwasaki, Y.; Khodjamirian, A.; Kusaka, A.; Kuzmin, A.; Lafferty, G.; Lazzaro, A.; Li, J.; Lindemann, D.; Long, O.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinelli, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G.; Muller, D.; Nakazawa, H.; Ongmongkolkul, P.; Pacetti, S.; Palombo, F.; Pedlar, T.; Piilonen, L.; Pilloni, A.; Poireau, V.; Prothmann, K.; Pulliam, T.; Rama, M.; Ratcliff, B.; Roudeau, P.; Schrenk, S.; Schroeder, T.; Schubert, K.; Shen, C.; Shwartz, B.; Soffer, A.; Solodov, E.; Somov, A.; Starič, M.; Stracka, S.; Telnov, A.; Todyshev, K.; Tsuboyama, T.; Uglov, T.; Vinokurova, A.; Walsh, J.; Watanabe, Y.; Won, E.; Wormser, G.; Wright, D.; Ye, S.; Zhang, C.; Abachi, S.; Abashian, A.; Abe, K.; Abe, N.; Abe, R.; Abe, T.; Abrams, G.; Adam, I.; Adamczyk, K.; Adametz, A.; Adye, T.; Agarwal, A.; Ahmed, H.; Ahmed, M.; Ahmed, S.; Ahn, B.; Ahn, H.; Aitchison, I.; Akai, K.; Akar, S.; Akatsu, M.; Akemoto, M.; Akhmetshin, R.; Akre, R.; Alam, M.; Albert, J.; Aleksan, R.; Alexander, J.; Alimonti, G.; Allen, M.; Allison, J.; Allmendinger, T.; Alsmiller, J.; Altenburg, D.; Alwyn, K.; An, Q.; Anderson, J.; Andreassen, R.; Andreotti, D.; Andreotti, M.; Andress, J.; Angelini, C.; Anipko, D.; Anjomshoaa, A.; Anthony, P.; Antillon, E.; Antonioli, E.; Aoki, K.; Arguin, J.; Arinstein, K.; Arisaka, K.; Asai, K.; Asai, M.; Asano, Y.; Asgeirsson, D.; Asner, D.; Aso, T.; Aspinwall, M.; Aston, D.; Atmacan, H.; Aubert, B.; Aulchenko, V.; Ayad, R.; Azemoon, T.; Aziz, T.; Azzolini, V.; Azzopardi, D.; Baak, M.; Back, J.; Bagnasco, S.; Bahinipati, S.; Bailey, D.; Bailey, S.; Bailly, P.; van Bakel, N.; Bakich, A.; Bala, A.; Balagura, V.; Baldini-Ferroli, R.; Ban, Y.; Banas, E.; Band, H.; Banerjee, S.; Baracchini, E.; Barate, R.; Barberio, E.; Barbero, M.; Bard, D.; Barillari, T.; Barlow, N.; Barlow, R.; Barrett, M.; Bartel, W.; Bartelt, J.; Bartoldus, R.; Batignani, G.; Battaglia, M.; Bauer, J.; Bay, A.; Beaulieu, M.; Bechtle, P.; Beck, T.; Becker, J.; Becla, J.; Bedny, I.; Behari, S.; Behera, P.; Behn, E.; Behr, L.; Beigbeder, C.; Beiline, D.; Bell, R.; Bellini, F.; Bellodi, G.; Belous, K.; Benayoun, M.; Benelli, G.; Benitez, J.; Benkebil, M.; Berger, N.; Bernabeu, J.; Bernard, D.; Bernet, R.; Bernlochner, F.; Berryhill, J.; Bertsche, K.; Besson, P.; Best, D.; Bettarini, S.; Bettoni, D.; Bhardwaj, V.; Bhimji, W.; Bhuyan, B.; Biagini, M.; Biasini, M.; van Bibber, K.; Biesiada, J.; Bingham, I.; Bionta, R.; Bischofberger, M.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Blanc, F.; Blaylock, G.; B
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Elenco autori:
Bevan, A.; Golob, B.; Mannel, T.; Prell, S.; Yabsley, B.; Aihara, H.; Anulli, F.; Arnaud, N.; Aushev, T.; Beneke, M.; Beringer, J.; Bianchi, F.; Bigi, I.; Bona, M.; Brambilla, N.; Brodzicka, J.; Chang, P.; Charles, M.; Cheng, C.; Cheng, H.; Chistov, R.; Colangelo, P.; Coleman, J.; Drutskoy, A.; Druzhinin, V.; Eidelman, S.; Eigen, G.; Eisner, A.; Faccini, R.; Flood, K.; Gambino, P.; Gaz, A.; Gradl, W.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Hulsbergen, W.; Hurth, T.; Iijima, T.; Itoh, R.; Jackson, P.; Kass, R.; Kolomensky, Y.; Kou, E.; Križan, P.; Kronfeld, A.; Kumano, S.; Kwon, Y.; Latham, T.; Leith, D.; Lüth, V.; Martinez-Vidal, F.; Meadows, B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nishida, S.; Ocariz, J.; Olsen, S.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Palano, A.; Pich, A.; Playfer, S.; Poluektov, A.; Porter, F.; Robertson, S.; Roney, J.; Roodman, A.; Sakai, Y.; Schwanda, C.; Schwartz, A.; Seidl, R.; Sekula, S.; Steinhauser, M.; Sumisawa, K.; Swanson, E.; Tackmann, F.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uno, S.; van de Water, R.; Vasseur, G.; Verkerke, W.; Waldi, R.; Wang, M.; Wilson, F.; Zupan, J.; Zupanc, A.; Adachi, I.; Albert, J.; Banerjee, S.; Bellis, M.; Ben-Haim, E.; Biassoni, P.; Cahn, R.; Cartaro, C.; Chauveau, J.; Chen, C.; Chiang, C.; Cowan, R.; Dalseno, J.; Davier, M.; Davies, C.; Dingfelder, J.; Echenard, B.; Epifanov, D.; Fulsom, B.; Gabareen, A.; Gary, J.; Godang, R.; Graham, M.; Hafner, A.; Hamilton, B.; Hartmann, T.; Hayasaka, K.; Hearty, C.; Iwasaki, Y.; Khodjamirian, A.; Kusaka, A.; Kuzmin, A.; Lafferty, G.; Lazzaro, A.; Li, J.; Lindemann, D.; Long, O.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinelli, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G.; Muller, D.; Nakazawa, H.; Ongmongkolkul, P.; Pacetti, S.; Palombo, F.; Pedlar, T.; Piilonen, L.; Pilloni, A.; Poireau, V.; Prothmann, K.; Pulliam, T.; Rama, M.; Ratcliff, B.; Roudeau, P.; Schrenk, S.; Schroeder, T.; Schubert, K.; Shen, C.; Shwartz, B.; Soffer, A.; Solodov, E.; Somov, A.; Starič, M.; Stracka, S.; Telnov, A.; Todyshev, K.; Tsuboyama, T.; Uglov, T.; Vinokurova, A.; Walsh, J.; Watanabe, Y.; Won, E.; Wormser, G.; Wright, D.; Ye, S.; Zhang, C.; Abachi, S.; Abashian, A.; Abe, K.; Abe, N.; Abe, R.; Abe, T.; Abrams, G.; Adam, I.; Adamczyk, K.; Adametz, A.; Adye, T.; Agarwal, A.; Ahmed, H.; Ahmed, M.; Ahmed, S.; Ahn, B.; Ahn, H.; Aitchison, I.; Akai, K.; Akar, S.; Akatsu, M.; Akemoto, M.; Akhmetshin, R.; Akre, R.; Alam, M.; Albert, J.; Aleksan, R.; Alexander, J.; Alimonti, G.; Allen, M.; Allison, J.; Allmendinger, T.; Alsmiller, J.; Altenburg, D.; Alwyn, K.; An, Q.; Anderson, J.; Andreassen, R.; Andreotti, D.; Andreotti, M.; Andress, J.; Angelini, C.; Anipko, D.; Anjomshoaa, A.; Anthony, P.; Antillon, E.; Antonioli, E.; Aoki, K.; Arguin, J.; Arinstein, K.; Arisaka, K.; Asai, K.; Asai, M.; Asano, Y.; Asgeirsson, D.; Asner, D.; Aso, T.; Aspinwall, M.; Aston, D.; Atmacan, H.; Aubert, B.; Aulchenko, V.; Ayad, R.; Azemoon, T.; Aziz, T.; Azzolini, V.; Azzopardi, D.; Baak, M.; Back, J.; Bagnasco, S.; Bahinipati, S.; Bailey, D.; Bailey, S.; Bailly, P.; van Bakel, N.; Bakich, A.; Bala, A.; Balagura, V.; Baldini-Ferroli, R.; Ban, Y.; Banas, E.; Band, H.; Banerjee, S.; Baracchini, E.; Barate, R.; Barberio, E.; Barbero, M.; Bard, D.; Barillari, T.; Barlow, N.; Barlow, R.; Barrett, M.; Bartel, W.; Bartelt, J.; Bartoldus, R.; Batignani, G.; Battaglia, M.; Bauer, J.; Bay, A.; Beaulieu, M.; Bechtle, P.; Beck, T.; Becker, J.; Becla, J.; Bedny, I.; Behari, S.; Behera, P.; Behn, E.; Behr, L.; Beigbeder, C.; Beiline, D.; Bell, R.; Bellini, F.; Bellodi, G.; Belous, K.; Benayoun, M.; Benelli, G.; Benitez, J.; Benkebil, M.; Berger, N.; Bernabeu, J.; Bernard, D.; Bernet, R.; Bernlochner, F.; Berryhill, J.; Bertsche, K.; Besson, P.; Best, D.; Bettarini, S.; Bettoni, D.; Bhardwaj, V.; Bhimji, W.; Bhuyan, B.; Biagini, M.; Biasini, M.; van Bibber, K.; Biesiada, J.; Bingham, I.; Bionta, R.; Bischofberger, M.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Blanc, F.; Blaylock, G.; Blinov, V.; Bloom, E.; Bloom, P.;
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: